El sistema de medición de imágenes micro-nano fotoeléctricas utiliza la técnica de imágenes microscópicas, múltiples vías de luz de excitación, para proporcionar luz monocromática estable y de pequeño tamaño a un dispositivo de prueba fotovoltaico. Sus funciones son caracterizar las distribuciones de corriente de cortocircuito, el defecto superficial y la reflectividad en dispositivos electrónicos.
Basado en la técnica de escaneo galvo, el sistema se caracteriza por un escaneo rápido y una alta resolución espacial, ampliamente utilizado para investigar células solares y dispositivos fotoeléctricos, como los sensibilizados por colorante, silicio monocristalino, silicio multicristalino, semiconductor orgánico, detector de GaN, etc. La imagen fotoeléctrica puede proporcionar importantes datos analíticos para la QE, la distribución de la resistencia y la falta de homogeneidad de la corriente foto-generada.
Estructura del sistema:
El sistema contiene láseres de excitación, galvanómetro de barrido, microscopio, unidad de adquisición de datos y software de control. Al escanear la muestra, el galvanómetro hace que el punto láser escanee y se mueva en la dirección XY de la muestra rápidamente. El software registra la posición de cada punto de exploración y el valor de salida de corriente, y representa de forma sincrónica un gráfico que muestra la distribución de corriente de la muestra. La trayectoria de la luz también garantiza que el patrón del punto luminoso en diferentes posiciones de la muestra no cambiará.
Componentes:
fuentes de luz
■ Microscopía
■ Galvanómetro de barrido
■ Medidor de fuente
■ Estación de sonda y software
Características
■ Longitud de onda láser múltiple opcional
■ Fácil sustitución de la muestra
■ La etapa lineal XY es fácil de cambiar el punto de medición de la muestra
■ La exploración galvo elimina los efectos de las vibraciones
■ El software de visualización puede elegir arbitrariamente el área de escaneo
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