& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Resolución espacial: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm
... que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso a voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, se adopta el nuevo ...
Jeol
Aumento: 10 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,2, 0,14 nm
... necesidades, se ha equipado un nuevo microscopio electrónico de 120 kV "JEM-1400Flash" con una cámara sCMOS de alta sensibilidad, un sistema de montaje de área ultraamplia y una función de enlace de imágenes OM ( microscopio ...
Jeol
Aumento: 50 unit - 1.200.000 unit
Resolución espacial: 0,2, 0,14 nm
Ancho: 840 mm
... Los microscopios electrónicos de transmisión (TEM) con una tensión de aceleración de 120 kV se utilizan ampliamente en campos de materiales blandos como la biología y los polímeros. Hemos desarrollado recientemente el JEM-120i con el ...
Jeol
... La versatilidad y la alta resolución espacial se unen a la automatización con la FE-SEM de la serie JSM-IT810. La automatización sin codificación para la captura de imágenes y el análisis EDS está integrada para un flujo de trabajo racionalizado y eficiente. Las ...
Jeol
Resolución espacial: 0,5 nm - 3 nm
... El JSM-IT800 incorpora nuestro "cañón de electrones de emisión de campo Schottky Plus en la lente" para la obtención de imágenes de alta resolución para el mapeo elemental rápido, y un innovador sistema de control óptico de electrones "Neo Engine", así ...
Jeol
... Los microscopios electrónicos de barrido de sobremesa se utilizan en una amplia gama de campos, como la electricidad, la electrónica, la automoción, la maquinaria, la química y la industria farmacéutica. Además, las aplicaciones ...
Jeol
Aumento: 150, 10.000, 100, 500, 5.000 unit
Resolución espacial: 3, 15 nm
... Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) son herramientas indispensables no sólo para la investigación, sino también para el control de calidad y los centros de fabricación. En esos escenarios, es necesario realizar repetidamente ...
Jeol
Aumento: 20 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 4 nm
... Los avances en el desarrollo de nuevos materiales con nanoestructuras complejas exigen cada vez más a los instrumentos FIB-SEM una resolución, precisión y rendimiento excepcionales. Como respuesta, JEOL ha desarrollado el sistema multihaz JIB-4700F para ...
Jeol
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor