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microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU7000

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm

... gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, sondeo, secciones ...

microscopio TEM
microscopio TEM
HT7800 Series

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para cambiar rápidamente ...

microscopio óptico
microscopio óptico
JPK NanoWizard® ULTRA Speed 3

... 1.400 líneas por segundo se han combinado en un instrumento que puede integrarse perfectamente en técnicas avanzadas de microscopía óptica y superresolución. El sistema proporciona mediciones de muestras correlacionadas y la caracterización ...

microscopio SEM
microscopio SEM
SU7000

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm

... requiere un alto rendimiento, sino también multitud de funcionalidades, como la observación de áreas amplias, el análisis in situ, la presión variable, la obtención de imágenes de alta resolución con voltajes de aceleración ...

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