Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU7000

para la investigaciónBF-STEMDF-STEM

Los modernos microscopios FE-SEM no solo requieren un alto rendimiento, sino también una gran variedad de funcionalidades, entre las que se incluyen la observación de áreas amplias, el análisis in situ, la presión variable, la obtención de imágenes de alta resolución a bajos voltajes de aceleración y la captación simultánea de múltiples señales. El SU7000 está diseñado para dar respuesta a estos aspectos y muchos más, proporcionando información mejorada para satisfacer las diversas necesidades en el campo de la microscopía electrónica. Características Concepto clave 1. Capacidad de obtención de imágenes versátil El SU7000 destaca por su rápida adquisición de múltiples señales para dar respuesta a las amplias necesidades de la microscopía electrónica de barrido (SEM), desde la obtención de imágenes de un amplio campo de visión hasta la visualización de estructuras subnanométricas, pasando por todo lo demás. La incorporación de sistemas de óptica electrónica y detección de nuevo diseño permite la adquisición simultánea y eficiente de múltiples señales de electrones secundarios y de electrones retrodispersados. 2. Imágenes multicanal El número de detectores montados en el SEM no deja de aumentar, al igual que la necesidad de mostrar toda la información recopilada de forma eficaz. El SU7000 es capaz de procesar, visualizar y guardar hasta 6 señales simultáneamente para maximizar la adquisición de información. 3. Amplia variedad de técnicas de observación La cámara de muestras y el sistema de vacío están optimizados para: Muestras de gran tamaño Manipulación de muestras en diversos ejes Condiciones de presión variables Condiciones criogénicas Observación in situ de procesos de calentamiento y enfriamiento 4. Microanálisis El cañón de electrones está equipado con un emisor Schottky que proporciona una corriente de haz de hasta 200 nA para adaptarse a diversas aplicaciones de microanálisis.