Microscopio FIB NX9000
FIB-SEMde laboratoriopara la investigación

Microscopio FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB-SEM / de laboratorio / para la investigación
Microscopio FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB-SEM / de laboratorio / para la investigación
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Características

Tipo
FIB, FIB-SEM
Aplicaciones
de laboratorio, para la investigación, biológico
Técnica de observación
3D
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo frío
Otras características
alta resolución, de fuerte contraste
Resolución espacial

1,6 nm, 2,1 nm, 4 nm

Descripción

El sistema FIB-SEM de nuevo desarrollo de Hitachi, el NX9000, incorpora un diseño optimizado para el seccionamiento en serie de alta resolución, con el fin de dar respuesta a las últimas exigencias en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales para una amplia gama de ámbitos relacionados con materiales avanzados, dispositivos electrónicos, tejidos biológicos y multitud de otras aplicaciones. Características Las columnas del SEM y del FIB están dispuestas ortogonalmente para optimizar su posicionamiento de cara al análisis estructural en 3D. La combinación de una fuente de electrones de emisión de campo frío de alto brillo y una óptica de alta sensibilidad permite el análisis de una amplia gama de materiales, desde tejidos biológicos hasta materiales magnéticos. El sistema de micromuestreo y el sistema de triple haz permiten una preparación de muestras de alta calidad para aplicaciones de microscopía electrónica de transmisión (TEM) y de sonda atómica. Fresado iónico y observación en incidencia normal en tiempo real para obtener imágenes analíticas fiables Las columnas del SEM y del FIB están dispuestas ortogonalmente para obtener imágenes SEM en incidencia normal de secciones transversales de FIB. La disposición ortogonal de las columnas elimina la deformación de las proporciones, el acortamiento de las imágenes transversales y el desplazamiento del campo de visión (FOV) durante la obtención de imágenes de secciones seriadas, algo que no se puede evitar con los sistemas FIB-SEM convencionales. Las imágenes del NX9000 permiten un análisis estructural tridimensional de gran precisión. La microscopía correlativa óptica se puede aplicar fácilmente gracias a las ventajas que ofrece la obtención de imágenes EM con superficie plana. Cut&See Cut & See permite obtener imágenes de alta resolución y alto contraste de tejidos biológicos, semiconductores y materiales magnéticos, como el acero y el níquel, a bajos voltajes de aceleración.

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.