Microscopios de laboratorio HITACHI

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,6, 0,9 nm

... Microscopios SEM de efecto Schottky para la obtención de imágenes de resolución ultraalta y trabajos analíticos Ideales para usuarios que desean combinar la obtención de imágenes de resolución ultraalta con capacidades analíticas. Distancia ...

Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm

... profesionales experimentados como para quienes se inician en la microscopía electrónica. La configuración flexible del instrumento lo convierte en la opción ideal para diversos entornos de laboratorio. Tanto si trabajas ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Largo: 617 mm

... del filamento El microscopio electrónico de barrido Hitachi TM4000PlusIII ofrece una solución compacta y fácil de usar para la obtención de imágenes y el análisis elemental. Diseñado para una amplia gama de usuarios —desde laboratorios ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... simétricamente en oposición: «Symmetrical Dual SDD*» Carcasa de nuevo diseño para un rendimiento óptimo en entornos de laboratorio reales Una amplia gama de portamuestras avanzados de Hitachi* FEG en frío de alto brillo × Alta estabilidad ...

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La serie HT7800 es un microscopio electrónico de transmisión (TEM) de 120 kV que combina la obtención de datos de alta calidad y reproducibles con una mayor eficiencia en las tareas de observación. Al automatizar las alineaciones y los ...

Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm

... materiales industriales de mayor tamaño, estos microscopios electrónicos de barrido te proporcionan la versatilidad y la estabilidad necesarias para alcanzar los objetivos de tu laboratorio. Ideales tanto para laboratorios ...

Resolución espacial: 60, 4 nm

... de la orientación de la muestra para evitar el efecto «anti-curtaining» (tecnología ACE) Preparación de muestras para microscopio electrónico de transmisión (TEM) con láminas uniformes en cualquier orientación 4. Compatible con triple ...

Resolución espacial: 1,6, 2,1, 4 nm

... en serie de alta resolución, con el fin de dar respuesta a las últimas exigencias en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales para una ...

Resolución espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 es un FIB-SEM optimizado para aplicaciones de semiconductores (análisis de defectos con importación de coordenadas KLARF, extracción de láminas TEM, desarrollo de dispositivos). Con un recorrido X,Y de 205 x 205 mm, la etapa de muestra permite ...