Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones y utilizar eficazmente su alto rendimiento. El SU3900 está equipado con una gran cámara de muestras polivalente que permite la observación de muestras de gran tamaño.
Características
1.Cámara de muestras sustancialmente más grande para muestras pesadas y de gran tamaño
■ Plataforma robusta para flexibilidad en el tamaño, la forma y el peso de las muestras
La secuencia de intercambio de muestras evita posibles daños al sistema o a la muestra.
Intercambie las muestras sin ventilar la cámara de muestras, lo que mejora el rendimiento.
Aumente la manipulación de la muestra con el modo Stage Free*.
El Chamber Scope mejora la seguridad de los movimientos de la platina*.
■Aumento del área de visualización: SEM MAP amplía los límites de la navegación de muestras
Visualización integrada en la cámara
Navegue fácilmente por toda el área observable
Rotación orientada al detector
2.Evolución del mercado-Funciones automáticas mejoradas para operadores de cualquier nivel de destreza
■Múltiples modos de funcionamiento
■ Funciones automáticas para operadores de cualquier nivel de destreza
Algoritmos automáticos mejorados-3X más rápidos (en comparación con el modelo Hitachi S-3700N)
Función de enfoque automático mejorada
Características de nuestra tecnología patentada de filamento inteligente (IFT):
■Multi Zigzag permite una observación amplia en múltiples áreas.
■Report Creator genera informes de los datos adquiridos.
3.Soluciones integradas para diversas aplicaciones
■Variedad de accesorios montables en cualquiera de los 20 puertos de la innovadora cámara de muestras SU3900.
■Sistema de integración SEM/EDS*
■Detectores de alta sensibilidad que admiten todos los requisitos de observación
Observación CL mediante UVD*
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