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Microscopio electrónico SEM SU3800
multifuncionalde mesa

Microscopio electrónico SEM - SU3800 - Hitachi High-Technologies - multifuncional / de mesa
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Características

Tipo
SEM
Aplicaciones
multifuncional
Configuración
de mesa
Aumento

Mín.: 5 unit

Máx.: 800.000 unit

Resolución espacial

3 nm, 4 nm, 15 nm

Descripción

Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones y utilizar eficazmente su alto rendimiento. El SU3900 está equipado con una gran cámara de muestras polivalente que permite la observación de muestras de gran tamaño. Características 1.Cámara de muestras sustancialmente más grande para muestras pesadas y de gran tamaño ■ Plataforma robusta para flexibilidad en el tamaño, la forma y el peso de las muestras La secuencia de intercambio de muestras evita posibles daños al sistema o a la muestra. Intercambie las muestras sin ventilar la cámara de muestras, lo que mejora el rendimiento. Aumente la manipulación de la muestra con el modo Stage Free*. El Chamber Scope mejora la seguridad de los movimientos de la platina*. ■Aumento del área de visualización: SEM MAP amplía los límites de la navegación de muestras Visualización integrada en la cámara Navegue fácilmente por toda el área observable Rotación orientada al detector 2.Evolución del mercado-Funciones automáticas mejoradas para operadores de cualquier nivel de destreza ■Múltiples modos de funcionamiento ■ Funciones automáticas para operadores de cualquier nivel de destreza Algoritmos automáticos mejorados-3X más rápidos (en comparación con el modelo Hitachi S-3700N) Función de enfoque automático mejorada Características de nuestra tecnología patentada de filamento inteligente (IFT): ■Multi Zigzag permite una observación amplia en múltiples áreas. ■Report Creator genera informes de los datos adquiridos. 3.Soluciones integradas para diversas aplicaciones ■Variedad de accesorios montables en cualquiera de los 20 puertos de la innovadora cámara de muestras SU3900. ■Sistema de integración SEM/EDS* ■Detectores de alta sensibilidad que admiten todos los requisitos de observación Observación CL mediante UVD*

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.