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Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,4, 0,7 nm
... La fuente de emisión de campo frío es ideal para obtener imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una dispersión de energía reducidos. La innovadora tecnología CFE Gun aporta lo último en FE-SEM con un brillo y una estabilidad ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria plataforma ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... abordar estos aspectos y otros más, proporcionando información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica. ¡Experimente el nanomundo con el SU7000! *La fotografía del dispositivo ...
Hitachi High-Technologies
... convierten en expertos de la noche a la mañana. La tecnología de ajuste automático de ejes (autocalibración) restablece el microscopio a su "mejor estado" a petición del usuario. Una robusta cámara de muestras "extraíble" ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Ancho: 330 mm
... serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Control de la orientación de la muestra totalmente integrado para el efecto anticurtido (tecnología ACE) Preparación de muestras TEM para láminas uniformes en cualquier orientación 4. Capacidad de triple haz, con resultados ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 2,1, 1,6 nm
... serie de alta resolución real con el fin de hacer frente a las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... preparación de muestras de TEM de alto rendimiento y alta calidad para aplicaciones de vanguardia. * Opción Características La detección de punto final SEM de alto contraste y en tiempo real permite la preparación ...
Hitachi High-Technologies
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