Sistema de preparación de muestras automático POLISHER™

de laboratoriopara microscopio electrónicode refrigeración

CROSS SECTION POLISHER™ (CP) es un dispositivo para preparar una sección transversal de una muestra para microscopía electrónica. Dado que la sección transversal se prepara con un haz de iones, es posible obtener una sección transversal de buena calidad en menos tiempo y sin diferencias individuales, en comparación con otros métodos como el pulido, que requiere experiencia. Al incorporar la nueva interfaz gráfica de usuario y el Internet de las cosas (IoT), el funcionamiento y la supervisión del proceso de fresado se hicieron más fáciles de usar con el IB-19540CP/IB-19550CCP. La fuente de iones de alto rendimiento y el sistema de refrigeración de alto rendimiento permiten una preparación rápida y sin problemas de la sección transversal. Características Nueva interfaz gráfica de usuario e Internet de las cosas (IoT) ～fácil de usar y con control remoto～ La incorporación de una nueva GUI hace que los pasos de operación sean fáciles de entender. Se puede configurar fácilmente siguiendo el diagrama de flujo del panel de control. Dispone de funciones de preajuste para guardar y recuperar condiciones de proceso adaptadas a aplicaciones o tipos de muestras específicos. Conexión a LAN para acceso remoto y control a través de un navegador web. Supervise y ajuste el proceso de fresado en varios CP. Fuente de iones de alto rendimiento La fuente de iones de alto rendimiento viene equipada de serie. La densidad de corriente iónica se ha mejorado optimizando el electrodo de la fuente de iones y aumentando la tensión de aceleración. La velocidad de fresado estándar es ahora de 1.200 μm/h. Sistema de refrigeración de alto rendimiento ～enfriamiento automático y retorno automático a la temperatura ambiente～ El enfriamiento para volver a la temperatura normal se puede realizar automáticamente. Además, la aspiración alrededor del tanque de nitrógeno líquido es posible desde el lado CP para mantener el tiempo de retención de enfriamiento y la temperatura de enfriamiento del espécimen.