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Software de laboratorio EM-05500TGP
para microscopio electrónico de transmisiónde visualizaciónde adquisición

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Características

Ámbito de aplicación
de laboratorio, para microscopio electrónico de transmisión
Función
de visualización, de adquisición, de medición

Descripción

Características Estructura tridimensional con sistema de tomografía TEM de alta precisión es un sistema de automatización que maneja todo un proceso desde la adquisición de imágenes de inclinación secuencial hasta su reconstrucción tridimensional. Su software (Recorder, Composer, Visualizer-Kai) emplea algoritmos únicos para permitir la automatización de varios ajustes particularmente requeridos para la Tomografía. Grabador Este software adquiere imágenes de inclinación secuencial en poco tiempo para Tomografía. Muchas imágenes de muestras, tomadas en el curso de una inclinación continua con un cierto paso angular, son necesarias para una reconstrucción precisa. Operaciones como la inclinación de la muestra en un paso de ángulo preestablecido, la corrección del desplazamiento de la vista derivado de la inclinación, el ajuste del enfoque y la adquisición de imágenes se llevan a cabo automáticamente. Compositor Este software realiza una reconstrucción tridimensional a partir de imágenes de inclinación adquiridas secuencialmente. El elemento crucial requerido para la tomografía de haz de electrones es cómo hacer una alineación precisa de los datos de la imagen. Esto se resuelve mediante el cálculo de la posición tridimensional en el eje de inclinación y el análisis de la información precisa del ángulo, y como resultado, se ha logrado una reconstrucción precisa en poco tiempo y de fácil operación. Visualizador-Kai Este software muestra datos tridimensionales reconstruidos mediante varios métodos, como el renderizado de volumen y el renderizado de superficie, y también permite la observación intuitiva en la pantalla como si se tratara de un manejo manual. Mediante el uso de un ratón, las imágenes se pueden mover y mostrar libremente. También se incluye la función de medición de longitud Etapa de muestreo de alta inclinación (opcional) Para adquirir la imagen en un ángulo de inclinación alto, se necesita una etapa de muestra de alta inclinación.

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