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Microscopio óptico JEM-2200FS
TEMbiológicopara la investigación

microscopio óptico
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Características

Tipo
óptico, TEM
Aplicaciones
para la investigación, biológico
Técnica de observación
3D
Configuración
de pie
Aumento

Máx.: 1.500.000 unit

Mín.: 2.000 unit

Resolución espacial

Máx.: 0,31 nm

Mín.: 0,1 nm

Descripción

El JEM-2200FS, un microscopio electrónico analítico de última generación, está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) de 200 kV y el filtro de energía en columna (filtro Omega) que permite obtener una imagen de pérdida cero, en la que se eliminan los electrones inelásticos, lo que da como resultado imágenes claras con un alto contraste. Y las imágenes filtradas por energía que se forman con electrones a baja pérdida o energía de pérdida del núcleo proporcionan información sobre el estado químico o elemental de una muestra. También se dispone de espectroscopia para el análisis elemental y el análisis químico de muestras. Filtro de energía en columna (filtro Omega) El filtro de energía en columna permite obtener imágenes con filtro de energía y espectros de pérdida de energía de electrones. El filtro de diseño óptimo proporciona imágenes filtradas sin distorsiones. Sistema de control Los principales componentes del JEM-2200FS, como el sistema óptico, la platina del goniómetro y el sistema de evacuación, están totalmente controlados por PC. Este sistema produce de forma estable datos de alta calidad. Sistema de imágenes Un nuevo sistema de imágenes, compuesto por lentes intermedias de cuatro etapas y lentes de proyector de dos etapas, consigue imágenes TEM con filtrado de energía sin rotación y patrones de difracción en una amplia gama de aumentos y longitud de cámara. Goniómetro piezoeléctrico Una nueva platina de goniómetro que incorpora un dispositivo piezoeléctrico ofrece un funcionamiento suave para la búsqueda de campos de visión a nivel atómico. Integración con otros instrumentos El microscopio puede controlarse totalmente con un PC. El concepto de diseño permite integrar un sistema EDS y cámaras CCD. Aplicación Exploración de muestras biológicas en 3D más allá de la tomografía electrónica clásica Cartografía elemental de resolución atómica mediante EELS y XEDS en STEM con corrección de aberraciones

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Catálogos

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Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov. 2024 Shanghai (China)

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