Microscopio óptico JEM-F200

TEMSTEMde laboratorio

El JEM-F200 es un microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo que ofrece una mayor resolución espacial y rendimiento analítico, junto con una interfaz de usuario intuitiva para un funcionamiento polivalente. Características Observaciones TEM/STEM de alta resolución desde tensiones de aceleración altas a bajas El JEM-F200 ofrece un cañón de electrones de emisión de campo frío que garantiza una gran estabilidad, alto brillo y alta resolución energética (<0,33 eV). Este cañón de electrones consigue eficazmente imágenes de mayor resolución al minimizar las aberraciones cromáticas originadas por la dispersión de energía de la fuente de electrones. Además, al incorporar los más de 10 años de experiencia de JEOL en el diseño, hemos mejorado significativamente la estabilidad mecánica y eléctrica. Análisis EDS de alto rendimiento y precisión El JEM-F200 puede equiparse simultáneamente con dos detectores de deriva de silicio (SDD) de gran superficie, lo que proporciona un análisis de alta sensibilidad. La gran área y la alta sensibilidad permiten un análisis EDS eficaz en una fracción del tiempo con daños reducidos. Además, el uso de la corrección de deriva de alta velocidad y sin pérdidas mediante imágenes STEM en directo durante el mapeo EDS permite realizar mediciones eficientes a la vez que se reducen los daños en la muestra provocados por el haz de electrones. Análisis EELS con alta resolución energética El CFEG del JEM-F200 puede obtener análisis de estados de enlace químico y estructura electrónica con alta resolución energética, superando las capacidades de un cañón de electrones de emisión de campo Schottky. Esto es posible gracias a la incorporación de un cañón de electrones de emisión de campo frío que garantiza una alta resolución energética (<0,33 eV) con EELS (opcional). Funcionamiento sencillo con un esfuerzo mínimo incluso para principiantes