Perfilómetro óptico TopMap Micro.View®+

multifuncional3Dpor topografía

TopMap Micro.View+ es el perfilador óptico de superficies de nueva generación. Diseñada para la modularidad, esta completa estación de trabajo permite configuraciones personalizadas y específicas para cada aplicación. El Micro.View + ofrece el análisis más detallado de la rugosidad superficial, la textura y la topografía de microestructuras. Combina datos 3D con información en color para obtener asombrosas visualizaciones y análisis ampliados como la documentación detallada de defectos. La cámara de alta resolución de 5 MP ofrece una visualización de datos 3D increíblemente detallada de superficies de ingeniería. Aspectos destacados Interferómetro de luz blanca de alta gama con resolución de nm rango de medición z de 100 mm con tecnología de barrido continuo CST Con Focus Finder y Focus Tracker listo para la automatización X, Y, Z, punta/inclinación y torreta motorizadas ahorran reposicionamiento Modo de información en color para ampliar el análisis y la documentación de los defectos Configuraciones modulares específicas para cada aplicación Automatización y producción La torreta codificada y motorizada garantiza una transición fluida entre objetivos. Micro.View+ incorpora el último Focus Finder más Focus Tracker, que mantiene la superficie enfocada en cualquier circunstancia. Las etapas de posicionamiento de muestras totalmente motorizadas permiten el cosido y la automatización. Caracterice pequeños detalles y microestructuras en 3D, evalúe la rugosidad superficial areal Sa con resolución subnm y evalúe incluso ángulos pronunciados con precisión interferométrica. Micro.View y Micro.View+ son perfiladores de superficies basados en la Tecnología de Escaneado de Coherencia (CSI) que ofrecen una excelente resolución vertical independientemente del aumento del objetivo. Con Tecnología de Escaneado Continuo (CST),