Sistemas de preparación de muestras Hitachi

... incidente del FIB Ejemplo de configuración del sistema Sistema FIB-STEM Un nuevo sistema de evaluación de dispositivos semiconductores consta de un sistema FIB FB2200 ...

... El electrodo de tipo magnetrón disminuye el daño a la muestra y reduce el tamaño medio de las partículas Cámara opcional para muestras de hasta 150 mm de diámetro Espaciador opcional para muestras ...

... la superficie de la muestra y el haz de electrones irradiado generan contaminación de la muestra. Por lo general, los hidrocarburos se adhieren de forma no covalente a la superficie de la muestra ...

... el fresado plano para preparar muestras en función de la finalidad. El control de la temperatura de refrigeración, la unidad de soporte de protección del aire y varias opciones permiten la preparación ...

... El sistema de haz de iones anchos más avanzado para producir muestras de sección transversal o fresado plano de calidad excepcional para microscopía electrónica. Características Velocidad de fresado ...

... usar para la preparación de muestras previa al análisis, garantizando los mejores datos posibles de sus muestras TEM. Visión general Las superficies de las muestras ...