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Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm
... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución y baja contaminación. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm
... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... . Características del producto: - Detectores Hitachi de alta eficiencia: -- Detector de electrones secundarios para alto vacío -- Detector de electrones retrodispersados semiconductor de 5 segmentos ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm
... rendimiento de la captura de imágenes ni a la variabilidad del detector. Características del producto: - 4nm @ 20kV Óptica de electrones de alta resolución con energías de haz entre 300eV y 20keV - Alto vacío y bajo vacío ajustable hasta ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Largo: 617 mm
... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detector de electrones secundarios para obtener información superpuesta sobre la superficie de la muestra en correlación con la señal de electrones transmitidos - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 es un FIB-SEM optimizado para aplicaciones de semiconductores (análisis de defectos con importación de coordenadas KLARF, extracción de láminas TEM, desarrollo de dispositivos). Con un recorrido X,Y de 205 x 205 mm, la etapa de muestra permite ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm
... demás. La incorporación de sistemas ópticos y de detección de electrones de nuevo diseño permite la adquisición simultánea y eficaz de múltiples señales de electrones secundarios y de electrones ...
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