Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU8700
de laboratoriopara la investigaciónde pie

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / de pie
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / de pie
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Características

Tipo
electrónico de barrido de emisión de campo
Aplicaciones
de laboratorio, para la investigación
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, de electrones secundarios, con detector de rayos X de dispersión de energía (EDS)
Otras características
de resolución ultra alta, automatizado, de barrido con presión variable
Aumento

Mín.: 20 unit

Máx.: 2.000.000 unit

Resolución espacial

0,6 nm, 0,9 nm

Descripción

Microscopios SEM de efecto Schottky para la obtención de imágenes de resolución ultraalta y trabajos analíticos Ideales para usuarios que desean combinar la obtención de imágenes de resolución ultraalta con capacidades analíticas. Distancia de trabajo analítica de tan solo 6 mm. Visualización de hasta seis canales de imagen en paralelo mediante una interfaz de usuario con doble monitor. Las capacidades de presión variable, sin necesidad de aperturas adicionales, permiten la obtención de imágenes y el trabajo analítico en muestras no conductoras. Automatización avanzada para flujos de trabajo optimizados. Fuente de emisión de campo Schottky. Potenciación del haz en todo el rango y una lente objetivo híbrida electrostática-magnética para una resolución subnanométrica sin interacción magnética con la muestra. Cámara más amplia. Admite muestras de hasta 200 mm de diámetro y 80 mm de altura. 18 puertos de acceso a la cámara, incluidos dos puertos de cableado en la puerta de la platina, para accesorios opcionales. Optimizado para la inspección rápida (alto rendimiento) de muestras de hasta 150 mm de diámetro. Carga de muestras a través de una cámara de intercambio de muestras estándar de seis pulgadas, con la posibilidad de incorporar un mecanismo opcional de transferencia con gas inerte. Descripción general Los microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) SU7000 y SU8700 de Hitachi ofrecen un equilibrio excepcional entre la obtención de imágenes de resolución ultraalta y las capacidades analíticas. Diseñados para ambas funciones, estos dos instrumentos comparten la misma óptica electrónica de alto rendimiento y las mismas características analíticas, pero presentan diferentes tamaños de cámara y platina. Los modelos SU7000 y SU8700 están diseñados para abarcar una amplia gama de aplicaciones. Su fuente de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo, su capacidad de obtención de imágenes multisignal en un solo barrido y la automatización opcional del flujo de trabajo (mediante el software EM Flow Creator) garantizan resultados consistentes y una productividad superior.

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VÍDEO

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.