Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU8700
de laboratoriopara la investigaciónde pie

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / de pie
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / de pie
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / de pie - imagen - 2
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Características

Tipo
electrónico de barrido de emisión de campo
Aplicaciones
de laboratorio, para la investigación
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, de electrones secundarios, con detector de rayos X de dispersión de energía (EDS)
Otras características
de resolución ultra alta, automatizado, de barrido con presión variable
Aumento

Mín.: 20 unit

Máx.: 2.000.000 unit

Resolución espacial

0,6 nm, 0,9 nm

Descripción

Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución y baja contaminación. Además, la cámara de muestras puede abrirse y evacuarse de nuevo en cuestión de minutos para insertar accesorios. La platina de muestras puede desplazarse 110 mm en las direcciones X e Y. Una cámara en color integrada permite la navegación basada en imágenes. Existen numerosas opciones de conexión para 2 x EDX, EBSD, STEM, transferencia de muestras de gas inerte, limpiador de plasma y otros accesorios. Características del producto: - Emisor de campo Hitachi Schottky duradero y estable con corriente de sonda de hasta 200 nA - Brillante rendimiento de imagen - sin necesidad de campo de desaceleración sobre la muestra - desde 100V (opción 10V) hasta 30kV de tensión de aceleración. Es posible realizar análisis EDX e imágenes de alta resolución con todos los detectores a una distancia de trabajo de 6 mm - Funciones automáticas fiables como la adaptación a las condiciones ópticas definidas por el usuario o el autoenfoque 2D y el autoestigmador permiten un uso práctico de las capacidades superiores del equipo - Se suministra de serie una esclusa para muestras de 150 mm de diámetro. Permite un rápido intercambio de muestras al tiempo que mantiene el vacío de la cámara

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VÍDEO

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 may. 2025 Stuttgart (Alemania)

  • Más información
    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 mar. 2026 München (Alemania)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.