El sistema Dimension IconIR™ de Bruker para muestras grandes combina la espectroscopia infrarroja (IR) a nanoescala y la microscopia de sonda de barrido (SPM) en una plataforma para ofrecer las capacidades más avanzadas de espectroscopia, imagen y mapeo de propiedades disponibles para investigadores académicos y usuarios industriales. IconIR, que incorpora décadas de investigación e innovación tecnológica, ofrece un rendimiento inigualable basado en las mejores capacidades de medición AFM del Dimension Icon®. El sistema permite la microscopía correlativa y la obtención de imágenes químicas con mayor resolución y sensibilidad de monocapa, mientras que su exclusiva arquitectura de muestras grandes proporciona la máxima flexibilidad de muestras para la más amplia gama de aplicaciones.
Productivo
flujo de trabajo guiado y platina programable
Proporciona el mayor rendimiento de medición con AFM-IR intrínsecamente fácil de usar.
Multimodal
cartografía química y de propiedades
Proporciona datos cuantitativos nanoquímicos, nanomecánicos y nanoeléctricos.
Sub-5nm
imagen fototérmica AFM-IR patentada
Permite la más alta resolución, la mejor caracterización señal-ruido con sensibilidad monocapa.
Las primeras y únicas capacidades y prestaciones nanoIR
En un único sistema, IconIR ofrece el máximo rendimiento en espectroscopia infrarroja a nanoescala, resolución de imágenes químicas y sensibilidad monocapa.
Sólo Dimension IconIR ofrece:
Espectroscopia nanoIR de alto rendimiento con correlación FTIR precisa y repetible, resolución química de <5 nm y sensibilidad monocapa
Imágenes químicas correlativas con modos nanomecánicos y nanoeléctricos PeakForce Tapping
Imágenes AFM de alto rendimiento y flexibilidad de muestras inigualable con alojamiento de muestras de gran tamaño*
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