El sistema Anasys nanoIR3-s de Bruker combina la microscopía óptica de campo cercano con barrido de dispersión (s-SNOM) y la espectroscopía IR a nanoescala (AFM-IR) con un microscopio de fuerza atómica (AFM) integrado, todo en una única plataforma. Basándose en el legado de liderazgo tecnológico de Anasys en la caracterización nanoóptica basada en AFM, nanoIR3-s proporciona espectroscopia IR a nanoescala, imágenes químicas y mapeo de propiedades ópticas con una resolución espacial de 10 nanómetros demostrada en muestras de materiales 2D. El sistema también permite la obtención de imágenes topográficas AFM y la cartografía de propiedades de materiales con una resolución a escala nanométrica, lo que lo convierte en un instrumento ideal para estudios correlativos en una amplia gama de aplicaciones de ciencia de materiales. El nanoIR3-s con opción de banda ancha añade la última tecnología de láser de femtosegundo OPO/DFG para proporcionar el rango espectral más amplio disponible (670 a 4000 cm-¹) con capacidades de imagen nanoquímica y nanoóptica de alta resolución.
Banda ancha
espectroscopia nano-FTIR
Ofrece una investigación de infrarrojos a nanoescala en femtosegundos hasta ahora inalcanzable.
Complementario
técnicas s-SNOM y AFM-IR
Permite cartografiar propiedades químicas y ópticas a nanoescala en una única plataforma.
Correlativo
opciones y accesorios
Amplíe las capacidades de mapeo de propiedades de materiales a nanoescala y de control ambiental de muestras.
Espectroscopia Nano FTIR de alto rendimiento
NanoIR3-s proporciona:
Espectroscopia nano FTIR de alto rendimiento;
Espectroscopia IR SNOM de alto rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible;
espectroscopia nano FTIR con DFG integrado, fuente láser basada en continuo Integración de fuente de luz sincrotrón de banda ancha; y
Fuente láser QCL multichip para espectroscopia e imágenes químicas.
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