Microscopio óptico SU9000II
SEMde laboratoriorecto

microscopio óptico
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Características

Tipo
óptico, SEM
Aplicaciones
de laboratorio
Ergonomía
recto
Configuración
de pequeño tamaño
Otras características
alta resolución
Aumento

3.000.000 unit

Resolución espacial

0,4 nm, 0,7 nm

Descripción

La fuente de emisión de campo frío es ideal para obtener imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una dispersión de energía reducidos. La innovadora tecnología CFE Gun aporta lo último en FE-SEM con un brillo y una estabilidad del haz superiores, lo que permite obtener imágenes de alta resolución y análisis elementales de alta calidad. Para permitir una adquisición de datos estable en los niveles de rendimiento más altos del instrumento, el SU9000II ofrece nuevas funciones que permiten realizar ajustes automatizados del sistema óptico, así como el nuevo paquete de software EM Flow Creator como opción para realizar la adquisición de datos automatizada, en particular la recopilación de datos secuenciales. Además, el exclusivo diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. Características El nuevo diseño del CFE GUN proporciona un alto brillo y una corriente de emisión extremadamente estable. Rendimiento superior a bajo kV para la observación de materiales sensibles al haz. Se garantiza una resolución SE de 0,7 nm incluso a una tensión de aterrizaje de 1,0 kV (con opción de función de desaceleración). Las nuevas capacidades que permiten realizar ajustes automatizados del sistema óptico y una función opcional que permite la adquisición automatizada de datos permiten la recogida secuencial de datos. Tecnología de vacío mejorada que permite niveles UHV para reducir la contaminación de las muestras. Carcasa del instrumento de alta ingeniería que ofrece una resistencia y estabilidad superiores para permitir la obtención de imágenes de alta resolución en una amplia gama de condiciones ambientales. El nuevo diseño de la lente del objetivo permite obtener imágenes de alta resolución con una tensión de aceleración baja. El sistema de intercambio de muestras de entrada lateral aumenta el rendimiento al reducir el tiempo necesario para cambiar las muestras y posicionar automáticamente la muestra en el WD actual.

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