Dispositivo de medición de espesor MPLS-DM series

para aplicaciones médicascontinuoen línea

Resumen del producto
La familia de sensores ChromaLine de STIL utiliza tecnología confocal cromática para mediciones de línea sin contacto y control continuo en procesos industriales. La versión MPLS-DM ofrece 180 puntos de medida alineados en longitudes de línea de 1,34 a 12,85 mm, pensada para operación continua con bajo mantenimiento.

Descripción
La MPLS-DM proporciona mediciones de distancia y espesor de alta resolución con frecuencias de 200 Hz hasta 2 kHz en modo estándar y hasta 6 kHz con rango de medición reducido. Soporta extracción de distancia basada en picos (primero/último e intermedios) y cálculo de espesor a partir de múltiples picos. La cabeza óptica está constituida por componentes pasivos para una fiabilidad industrial.

Beneficios

• Medición sin contacto versátil para materiales reflectantes (metales, vidrio, plásticos, capas de pintura, líquidos)
• Cabeza óptica de grado industrial compuesta por componentes pasivos para larga vida útil
• Alto rendimiento: hasta 360.000 puntos medidos/segundo a 2 kHz; >1.000.000 puntos/segundo a 6 kHz en aplicaciones dedicadas
• Modos de medición: distancia y espesor multi‑pico
• Alta resolución axial y bajo ruido para control fino de superficie y espesor
• SDK y comandos de protocolo para integración sencilla
• Adquisiciones sincronizadas mediante entrada de encoder para procesos dinámicos
• Comunicación Gigabit Ethernet para transferencia rápida de datos

Aplicaciones

• Inspección de vidrio automotriz
• Industria de envases y recipientes de vidrio
• Industria de vehículos eléctricos (medición de baterías)
• Control de roll-to-roll y películas (transparentes y opacas, electrónica flexible)
• Inspección en electrónica (PCB)
• Industria de semiconductores (oblea de silicio)
• Electrónica de consumo
• Sector médico (inspección de componentes)
• Micromecánica y precisión
• Aeronáutica / aeroespacial (inspección de superficies y ensamblajes)
• Relojería y microensamblaje
• Integración robótica para inspección automatizada

Versiones
Los sensores ChromaLine están disponibles en cinco versiones estándar MPLS-DM: NANOVIEW, MicroView, WireView, DeepView mk2 y SuperView, cada una optimizada según longitud de línea y rango de medida.

Datos técnicos (controlador / general)
Controlador: MPLS-DM
Tecnología: Confocal cromático
Fuente: LED blanca
Número de puntos: 180
Frecuencia de medida: 200 Hz – 2000 Hz (hasta 6000 Hz con rango reducido)
Medida de distancia: Pico más alto / Primero / Segundo / Tercero / Cuarto / Último pico
Medida de espesor: 2 de 5 picos
Salida digital: Gigabit Ethernet
Sincronización: Trigger entrada/salida
Otras E/S: Entrada de encoder (1)
Longitud del haz fibra: 5 m
Temperatura de uso: 5 °C – 50 °C
Temperatura de almacenamiento: -30 °C – 70 °C
Humedad relativa: 5% – 80% HR sin condensación
Protección: IP20
Conformidad: EN 61010-1; EN 61326-1
Alimentación: 100–240 Vac
Consumo (máx/typ): 120 W / 70 W
Dimensiones (mm): 448.9 x 184 x 497
Peso: 14.5 kg

Datos técnicos (versiones sensor - valores comparativos)
Modelos / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — Códigos de pedido: OPSTM705002 (NANOVIEW), OPSTM710002 (WIREVIEW), OPSTM706002 (MICROVIEW), OPST0707002 (DEEPVIEW mk2), OPSTM711001 (SUPERVIEW).
Longitud de línea (mm): 1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
Rango de medida @2 kHz (mm): 0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
Distancia de trabajo (mm): 7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
Apertura numérica: 0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
Pendiente máx. muestra (°): ±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
Pitch (µm): 7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
Error de linealidad máx (µm): ±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
Ruido estático (nm): 25 / 150 / 100 / 300 / 300
Resolución axial (µm): 0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
Tamaño de spot (µm): 2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
Homogeneidad (nm): 30 / 200 / 125 / 400 / 400
Espesor mínimo medible (µm): 18 / 110 / 50 / 250 / 300
Longitud / diámetro / peso (mm / mm / g): NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
Rango de medida @4 kHz (mm): 0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
Rango de medida @6 kHz (mm): 0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* Valor preliminar