Difractómetro de rayos X XtaLAB Synergy-ED

de laboratorio

Un sistema que cualquier cristalógrafo de rayos X encontrará intuitivo de manejar XtaLAB Synergy-ED es un difractómetro de electrones nuevo y totalmente integrado, que crea un flujo de trabajo sin fisuras desde la recogida de datos hasta la determinación de estructuras moleculares tridimensionales. El XtaLAB Synergy-ED es el resultado de una colaboración innovadora para combinar sinérgicamente nuestras tecnologías principales: El detector de recuento de fotones de alta velocidad y alta sensibilidad de Rigaku (HyPix-ED) y la plataforma de software de última generación para el control de instrumentos y el análisis de monocristales (CrysAlisPro para ED), y la larga experiencia y liderazgo de mercado de JEOL en el diseño y producción de microscopios electrónicos de transmisión. La característica clave de este producto es que proporciona a los investigadores una plataforma integrada que facilita el acceso a la cristalografía electrónica. El XtaLAB Synergy-ED es un sistema que cualquier cristalógrafo de rayos X encontrará intuitivo de manejar sin tener que convertirse en un experto en microscopía electrónica. El XtaLAB Synergy-ED fue diseñado para responder a la creciente necesidad de investigar muestras cada vez más pequeñas en la investigación estructural. Con la cristalografía de rayos X, la dimensión de cristal más pequeña posible es de 1 micra, y sólo entonces cuando se utilizan las fuentes de rayos X más brillantes y detectores libres de ruido. Sin embargo, en los últimos años ha aumentado la necesidad de analizar la estructura de sustancias que sólo forman microcristales, cristales que sólo miden unos cientos de nanómetros o menos. En los últimos años se ha desarrollado un nuevo método analítico, MicroED, que utiliza la difracción de electrones en un microscopio electrónico TEM para medir estructuras moleculares tridimensionales de materiales nanocristalinos.