Difractómetro de rayos X MiniFlex

para la investigación

El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa MiniFlex de sexta generación es un instrumento analítico de difracción de polvos polivalente que puede determinar: identificación y cuantificación de fases cristalinas (ID de fase), porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación de cristalitos, refinamiento de parámetros de red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Se utiliza ampliamente en investigación, especialmente en ciencia de materiales y química, así como en la industria para investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie MiniFlex de analizadores de difracción de rayos X de sobremesa de Rigaku, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas. Características Nuevo diseño de 6ª generación Recinto de radiación compacto y a prueba de fallos Hendidura variable del haz incidente Instalación sencilla y formación del usuario Sistema de goniómetro alineado en fábrica Funcionamiento con ordenador portátil Mediciones: Identificación de fase Cuantificación de fase (identificación de fase) Porcentaje (%) de cristalinidad Tamaño del cristalito y deformación Refinamiento de los parámetros de red Refinamiento de Rietveld Estructura molecular