Difractómetro de rayos X MiniFlex

para la investigación

Análisis cualitativo y cuantitativo de fases de materiales policristalinos El difractómetro de rayos X de sobremesa MiniFlex es un instrumento analítico de difracción de polvos polivalente que puede determinar: identificación y cuantificación de fases cristalinas (ID de fase), porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación de cristalitos, refinamiento de parámetros de red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Se utiliza ampliamente en investigación, especialmente en ciencia de materiales y química, así como en la industria para investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie MiniFlex de analizadores de difracción de rayos X de sobremesa de Rigaku, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas. Difracción de rayos X en polvo con detector HPAD El sistema MiniFlex XRD ofrece velocidad y sensibilidad a través de avances tecnológicos innovadores, incluyendo el detector HyPix-400 MF 2D hybrid pixel array (HPAD) junto con una fuente de rayos X de 600 W disponible y un nuevo cambiador automático de muestras de 8 posiciones. Detector híbrido de matriz de píxeles (HPAD) Este nuevo detector de recuento directo de fotones permite obtener datos a alta velocidad y con bajo nivel de ruido, y puede funcionar en los modos 0D y 1D para el análisis XRD convencional y en modo 2D para muestras con tamaño de grano grueso y/o orientación preferente. Los accesorios de DRX mejoran su MiniFlex Se ofrece una variedad de ánodos de tubo de rayos X, junto con una gama de accesorios de rotación y posicionamiento de muestras, así como una variedad de accesorios de temperatura, para garantizar que el sistema de difracción de rayos X (XRD) MiniFlex sea lo suficientemente versátil como para realizar análisis cualitativos y cuantitativos desafiantes de una amplia gama de muestras, ya sea realizando investigación o control de calidad rutinario.