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Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm
... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM clásico, pero ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Largo: 617 mm
... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... muestra. Gracias al corrector Cs, la superficie puede visualizarse con resolución atómica. El cambio rutinario y rápido entre TEM y STEM facilita el trabajo diario con un corrector de Cs totalmente automatizado, incluso ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm
... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm
... personalizables garantizan resultados uniformes y de alta calidad con una intervención mínima, lo que resulta ideal para laboratorios centrados en la eficiencia. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 0 unit
Resolución espacial: 4, 60 nm
... NX5000 está destinada a aplicaciones avanzadas de precisión de posición en las áreas de producción automatizada de láminas TEM ultrafinas para TEM/STEM con corrección de aberraciones, examen SEM multiseñal de alta resolución ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 1,6, 2,1, 4 nm
... En este sistema único, las columnas Ga-FIB y FE-SEM se encuentran en ángulo recto entre sí. Esta configuración es ideal para aplicaciones en las que deben analizarse grandes volúmenes (tejidos biológicos, materiales con grandes estructuras ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 es un FIB-SEM optimizado para aplicaciones de semiconductores (análisis de defectos con importación de coordenadas KLARF, extracción de láminas TEM, desarrollo de dispositivos). Con un recorrido X,Y de 205 x 205 mm, la etapa de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,4, 0,7 nm
... La fuente de emisión de campo frío es ideal para obtener imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una dispersión de energía reducidos. La innovadora tecnología CFE Gun aporta lo último en FE-SEM con un brillo y una estabilidad ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria plataforma ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... abordar estos aspectos y otros más, proporcionando información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica. ¡Experimente el nanomundo con el SU7000! *La fotografía del dispositivo ...
Hitachi High-Technologies
... convierten en expertos de la noche a la mañana. La tecnología de ajuste automático de ejes (autocalibración) restablece el microscopio a su "mejor estado" a petición del usuario. Una robusta cámara de muestras "extraíble" ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Ancho: 330 mm
... serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Control de la orientación de la muestra totalmente integrado para el efecto anticurtido (tecnología ACE) Preparación de muestras TEM para láminas uniformes en cualquier orientación 4. Capacidad de triple haz, con resultados ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 2,1, 1,6 nm
... serie de alta resolución real con el fin de hacer frente a las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales ...
Hitachi High-Technologies
Resolución espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... preparación de muestras de TEM de alto rendimiento y alta calidad para aplicaciones de vanguardia. * Opción Características La detección de punto final SEM de alto contraste y en tiempo real permite la preparación ...
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