Microscopios de laboratorio HITACHI

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...

Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM clásico, pero ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Largo: 617 mm

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... muestra. Gracias al corrector Cs, la superficie puede visualizarse con resolución atómica. El cambio rutinario y rápido entre TEM y STEM facilita el trabajo diario con un corrector de Cs totalmente automatizado, incluso ...

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para ...

Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm

... personalizables garantizan resultados uniformes y de alta calidad con una intervención mínima, lo que resulta ideal para laboratorios centrados en la eficiencia. ...

Aumento: 0 unit
Resolución espacial: 4, 60 nm

... NX5000 está destinada a aplicaciones avanzadas de precisión de posición en las áreas de producción automatizada de láminas TEM ultrafinas para TEM/STEM con corrección de aberraciones, examen SEM multiseñal de alta resolución ...

Resolución espacial: 1,6, 2,1, 4 nm

... En este sistema único, las columnas Ga-FIB y FE-SEM se encuentran en ángulo recto entre sí. Esta configuración es ideal para aplicaciones en las que deben analizarse grandes volúmenes (tejidos biológicos, materiales con grandes estructuras ...

Resolución espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 es un FIB-SEM optimizado para aplicaciones de semiconductores (análisis de defectos con importación de coordenadas KLARF, extracción de láminas TEM, desarrollo de dispositivos). Con un recorrido X,Y de 205 x 205 mm, la etapa de ...