Microscopio óptico NanoWizard® 4 XP NanoScience
de fuerza atómicade laboratoriode mesa

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Características

Tipo
óptico, de fuerza atómica
Aplicaciones
de laboratorio
Configuración
de mesa

Descripción

El microscopio de fuerza atómica NanoWizard® 4 XP NanoScience ofrece resolución atómica y un amplio rango de exploración de 100 µm en un solo sistema. Permite un barrido rápido con velocidades de hasta 150 líneas/seg y una integración perfecta con técnicas ópticas avanzadas. Una amplia gama de modos y accesorios para el control ambiental y la cartografía de propiedades nanomecánicas, eléctricas, magnéticas o térmicas lo convierten en el sistema más flexible disponible actualmente en el mercado. Precisión Investigación de propiedades de materiales Mediciones mecánicas, térmicas y eléctricas: Visualice la cristalización, la fusión, el crecimiento y la separación de fases. Modificar muestras con estimulación óptica, campos magnéticos o voltaje. Racionalizado Plataforma multiusuario ideal Opciones y funciones avanzadas para usuarios expertos. Amplia gama de accesorios para investigar películas conductoras, gradientes de fuerza magnética y fuerzas electrostáticas. Rendimiento 150 líneas/seg, rango de exploración de 100µm Configuración simplificada para aumentar la productividad. Ideal para experimentos dinámicos de muestras altamente estructuradas. Movimiento rápido y sencillo alrededor de la muestra. Máxima flexibilidad combinada con un rendimiento extremo El NanoWizard 4 XP NanoScience está equipado con una serie de nuevas funciones, entre las que se incluyen: PeakForce Tapping® para facilitar la obtención de imágenes Opción de escaneado rápido con hasta 150 líneas/seg Tecnología NestedScanner para obtener imágenes a alta velocidad de estructuras superficiales de hasta 16,5 µm con una resolución y estabilidad extraordinarias Nueva funcionalidad de mosaico para la cartografía automatizada de grandes áreas de muestra Software V7 con una nueva y revolucionaria interfaz de usuario basada en el flujo de trabajo Software DirectOverlay™ 2 para una perfecta integración y correlación de datos con plataformas avanzadas de microscopía de fluorescencia

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