Microscopio Raman Icon

AFMpara investigación en materialesde mesa

El sistema Icon AFM-Raman reúne las técnicas complementarias de microscopía de fuerza atómica y microscopía Raman para proporcionar información crítica tanto sobre la topografía como sobre la composición química de una muestra. Cuando estas técnicas se mejoran aún más con modos avanzados de AFM, como la caracterización eléctrica PeakForce TUNA™ exclusiva de Bruker y el mapeo nanomecánico cuantitativo PeakForce QNM®, los investigadores pueden comprender mejor los mecanismos que conducen a propiedades específicas de los materiales. Correlacionado AFM y u-Raman Permite realizar mediciones co-localizadas con una eficacia y facilidad insuperables. Avanzado Modos AFM Ayudan a los investigadores a comprender mejor los mecanismos que conducen a propiedades específicas de los materiales. Probado Establece un nuevo estándar de rendimiento para las capacidades de investigación micro-Raman. Estabilidad y flexibilidad de configuración El sistema AFM-Raman, compuesto por el AFM Dimension Icon® y un microscopio confocal Raman de grado de investigación (Horiba, LabRam), se encuentra en una única plataforma rígida antivibraciones. Esta configuración permite que el sistema mantenga la funcionalidad completa de cada instrumento individual, proporcionando un rendimiento combinado óptimo. Por ejemplo, la confi guración permite el complemento completo de actualizaciones Icon, modos AFM y características de facilidad de uso, incluyendo ScanAsyst® exclusivo de Bruker. Usted puede adaptar la combinación de modos más eficaz para su aplicación. Integración perfecta de técnica y análisis En cuestión de segundos se puede transferir una muestra entre las dos técnicas sin perturbaciones. Las mediciones AFM y espectroscópicas de la misma área de muestra se llevan a cabo de forma consecutiva sin peligro de desalineación o localización imprecisa de las características.