Microscopio de sonda de barrido Dimension XR

para nanocaracterizaciónde mesaalta resolución

Los sistemas de microscopio de sonda de barrido (SPM) Dimension XR de Bruker incorporan décadas de investigación e innovación tecnológica. Con una resolución de defectos atómicos rutinaria y una serie de tecnologías exclusivas que incluyen PeakForce Tapping®, modos DataCube, SECM y AFM-nDMA, ofrecen el máximo rendimiento y capacidad. La familia de SPM Dimension XR integra estas tecnologías en soluciones llave en mano para aplicaciones nanomecánicas, nanoeléctricas y electroquímicas. La cuantificación de materiales y sistemas activos a nanoescala en entornos de aire, fluidos, eléctricos o químicamente reactivos nunca ha sido tan fácil. Hiperespectral caracterización nanoeléctrica Incluye la gama más completa de técnicas de AFM eléctrico para la caracterización de materiales funcionales, semiconductores e investigación energética. Sub-100nm imágenes electroquímicas Proporciona la solución total de mayor resolución para el análisis cuantitativo de la actividad electroquímica local asociada a baterías, pilas de combustible y corrosión. Disponible en análisis nanomecánico Ofrece un conjunto de técnicas totalmente cuantitativas y llave en mano para correlacionar la estructura y las propiedades nanomecánicas de los materiales. XR Nanomechanics ofrece una gama de modos para detectar de forma exhaustiva las estructuras más pequeñas con una resolución espacial que llega hasta las unidades submoleculares de las cadenas de polímeros. Los investigadores correlacionan los datos nanomecánicos con los métodos DMA y de nanoidentificación a granel con nuestro modo AFM-nDMA™ patentado. Consiga una caracterización a nanoescala cuantificable que abarca desde hidrogeles y compuestos blandos y pegajosos hasta metales y cerámicas rígidos.