Microscopio AFM Dimension Icon®

para la investigaciónde piealta resolución

El Dimension Icon® de Bruker aporta los más altos niveles de rendimiento, funcionalidad y accesibilidad de AFM a los investigadores de la nanoescala en la ciencia y la industria. Basado en la plataforma de AFM de muestras grandes más utilizada del mundo, es la culminación de décadas de innovación tecnológica, comentarios de los clientes y flexibilidad de aplicación líder en la industria. El sistema se ha diseñado de arriba abajo para ofrecer la revolucionaria baja deriva y bajo ruido que permite a los usuarios obtener imágenes libres de artefactos en cuestión de minutos en lugar de horas. Máximo rendimiento escáner de punta Ofrece una resolución de muestras grandes inigualable con niveles de ruido de bucle abierto, ruido de fondo reducido y velocidades de deriva <200 pm. Fácil de usar productividad Ofrece una configuración sorprendentemente sencilla, un flujo de trabajo intuitivo y una rápida obtención de resultados para obtener siempre datos con calidad de publicación. Versátil plataforma de acceso abierto Acomoda la más amplia variedad de experimentos, modos, técnicas y mediciones semiautomatizadas. CARACTERÍSTICAS Máximo rendimiento y resolución La resolución superior del Dimension Icon, junto con los algoritmos de escaneo electrónico patentados por Bruker, proporcionan al usuario una mejora significativa en la velocidad y calidad de las mediciones. El Icon es la culminación de la tecnología AFM de escaneo de puntas de Bruker, líder en la industria, que incorpora sensores de posición con compensación de temperatura para obtener niveles de ruido en el rango sub-angstrom para el eje Z, y angstroms en XY. Se trata de un rendimiento extraordinario en un sistema de gran muestra y 90 micras de alcance de barrido, que supera los niveles de ruido de bucle abierto de los AFM de alta resolución.