Microscopio Raman Innova-IRIS

AFMpara investigación en materialesde mesa

Innova-IRIS combina el rendimiento AFM líder del sector y las sondas TERS exclusivas de Bruker para ofrecer la única solución completa y garantizada de espectroscopia Raman mejorada con puntas (TERS) del mundo. Se fusiona a la perfección con el sistema Renishaw inVia micro-Raman preservando plenamente las capacidades de cada componente por separado. El resultado es una plataforma productiva y completamente integrada para el mapeo correlacionado de propiedades a micro y nanoescala que amplía los límites de las aplicaciones AFM a la nanoespectroscopia y los análisis nanoquímicos. Colocalizado AFM y microscopía Raman Ofrece TERS de alto rendimiento con capacidades SPM completas. Propietario Sondas TERS Presentan cero interferencias espectrales para la máxima resolución espacial y TERS garantizado. Racionalizado hardware y software Reduzca la complejidad de las configuraciones TERS tradicionales. Diseñado específicamente para permitir TERS El registro de publicaciones demuestra que una geometría de reflexión fuera del eje es la mejor solución para maximizar la captura de luz teniendo en cuenta los efectos de la sombra de la punta y la polarización. El Innova-IRIS utiliza una novedosa arquitectura óptica que accede a la unión punta-muestra desde la parte frontal de la sonda para proporcionar una trayectoria óptica ideal libre de obstrucciones. La integración codiseñada del AFM de exploración de muestras Innova de Bruker con el sistema Micro-Raman inVia de Renishaw conserva de forma única la alineación óptica del "punto caliente" durante la exploración para permitir los estrictos requisitos para la obtención de imágenes TERS integradas. La integridad y el posicionamiento de la punta se mantienen durante los largos tiempos de integración de la señal necesarios para una investigación tan sensible.