Microscopios Hitachi

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microscopio SEM
microscopio SEM
SU9000

Resolución espacial: 0,4 nm
Aumento: 3.000.000 unit

... Microscopio electrónico de barrido de ultra alta resolución SU9000 La fuente de emisión de campo frío es ideal para imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente pequeño y una dispersión de energía. La innovadora ...

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microscopio óptico
microscopio óptico
Regulus series

... Como una nueva marca de FE-SEM, la línea de la serie Regulus comprende cuatro modelos: el Regulus8100, el Regulus8220, el Regulus8230 y el Regulus8240, todos los cuales amplían las funciones de la serie SU8200 con el uso de una plataforma ...

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microscopio FA-STEM
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SU5000

... Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky SU5000 El innovador FE-SEM analítico permite una transición sencilla entre el modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado ...

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microscopio SEM
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SU3500

... aplicaciones, incluyendo especímenes biológicos y materiales avanzados, el SU3500 es sin duda el microscopio de trabajo en cualquier laboratorio. El Microscopio Electrónico de Barrido SU3500 presenta ...

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microscopio SEM
microscopio SEM
S-3700N

... de 110 mm. Un escenario motorizado de 5 ejes hace que la gran cámara sea ideal para una gran variedad de muestras. El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) se está extendiendo hoy en día a un campo de aplicaciones ...

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microscopio SEM
microscopio SEM
TM3030Plus

... TM3030Plus permite mejorar la calidad de la imagen en el mundo de la observación en bajo vacío. El TM3030Plus tiene un detector de SE de primera calidad que ha sido incorporado en el FE-SEM & VP SEM, y bien aceptado por los usuarios ...

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microscopio electrónico de transmisión
microscopio electrónico de transmisión
HF-3300

... portamuestras compatible con Hitachi-FIB* no requiere el manejo con pinzas de las rejillas TEM entre la fabricación de la FIB y la observación de la TEM y garantiza un análisis TEM de ...

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microscopio STEM
microscopio STEM
HD-2700

... El HD-2700 es un microscopio electrónico de transmisión de exploración con pistola de emisión de campo de 80-200 kV (STEM) con capacidad de imágenes de electrones secundarios (SE). Las estructuras de masa y superficie ...

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microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX9000

... seccionamiento en serie de alta resolución para hacer frente a las últimas demandas en el análisis estructural en 3D y para los análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM del NX9000 permite la más alta precisión en el procesamiento ...

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microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX2000

... de muestras TEM Los sistemas FIB-SEM se han convertido en una herramienta indispensable para la caracterización y el análisis de las últimas tecnologías y los materiales de alto rendimiento a nanoescala. La creciente ...

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