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Microscopios FE-SEM
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microscopio electrónico de barrido de emisión de campoSU8700
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,6, 0,9 nm
... de incorporar un mecanismo opcional de transferencia con gas inerte. Descripción general Los microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo ( FE- SEM) SU7000 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm
... Los modernos microscopios FE- SEM no solo requieren un alto rendimiento, sino también una gran variedad de funcionalidades, entre las que se incluyen la observación de áreas amplias, el análisis in situ, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm
... Microscopios electrónicos de barrido ( SEM) potentes y versátiles, diseñados para ofrecer un alto rendimiento, manejar muestras de gran tamaño y satisfacer las necesidades de obtención de imágenes mediante ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... de hasta 0,7 sr para realizar análisis elementales de alta resolución tanto en modo SEM como STEM. Características del producto: - Combinación SEM-STEM con señal SEM filtrada por ExB y detección de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria ...
Hitachi High-Technologies
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm
... El FE- SEM moderno no sólo requiere un alto rendimiento, sino también multitud de funcionalidades, como la observación de áreas amplias, el análisis in situ, la presión variable, la obtención de imágenes de alta resolución ...
Hitachi High-Technologies
... La versatilidad y la alta resolución espacial se unen a la automatización con la FE- SEM de la serie JSM-IT810. La automatización sin codificación para la captura de imágenes y el análisis EDS está integrada para un flujo ...
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
... El CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo ( FE- SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas ...
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