Microscopio FE-SEM SU3800SE/SU3900SE
de laboratoriopara la investigaciónmultifuncional

Microscopio FE-SEM - SU3800SE/SU3900SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / multifuncional
Microscopio FE-SEM - SU3800SE/SU3900SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratorio / para la investigación / multifuncional
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Características

Tipo
FE-SEM
Aplicaciones
de laboratorio, para la investigación, multifuncional
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Otras características
alta resolución
Aumento

Mín.: 5 unit

Máx.: 600.000 unit

Resolución espacial

0,9 nm, 2,5 nm

Descripción

Microscopios electrónicos de barrido (SEM) potentes y versátiles, diseñados para ofrecer un alto rendimiento, manejar muestras de gran tamaño y satisfacer las necesidades de obtención de imágenes mediante automatización de fácil manejo, tanto en el ámbito académico como en el industrial. Los microscopios electrónicos de barrido SU3800SE y SU3900SE de Hitachi le ofrecen una solución de obtención de imágenes y análisis para una amplia gama de aplicaciones. Estos instrumentos proporcionan imágenes de alta resolución, una navegación sencilla por las muestras y funciones avanzadas de automatización, lo que garantiza resultados fiables y consistentes en diferentes casos de uso. Tanto si necesitas manejar muestras estándar como materiales industriales de mayor tamaño, estos microscopios electrónicos de barrido te proporcionan la versatilidad y la estabilidad necesarias para alcanzar los objetivos de tu laboratorio. Ideales tanto para laboratorios de investigación como para entornos industriales, los modelos SU3800SE y SU3900SE ayudan a reducir el tiempo de obtención de datos, mejorar la productividad y garantizar resultados reproducibles. Características y ventajas Tanto el SU3800SE como el SU3900SE cuentan con platinas eucéntricas de 5 ejes, precisas y de alta resistencia. SU3900SE: Capaz de alojar muestras de hasta 300 mm de diámetro, 130 mm de altura y 5 kg de peso. Se puede desplazar en los cinco ejes de la platina. Ideal para obtener imágenes de materiales industriales grandes y pesados, como componentes de automoción, sin necesidad de cortarlos a tamaños más pequeños, lo que le ahorra tiempo. También permite alojar múltiples muestras, por ejemplo, hasta 11 filtros de 47 mm de diámetro para inspecciones automatizadas a largo plazo. SU3800SE: Diseñado para muestras más pequeñas de hasta 200 mm de diámetro, 80 mm de altura y 2 kg de peso. Ofrece la flexibilidad necesaria para el análisis general de muestras en una amplia gama de campos. Tanto si trabajas con muestras de laboratorio estándar como con materiales industriales de gran tamaño, estos microscopios electrónicos de barrido (SEM) pueden satisfacer tus necesidades.

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.