Microscopio de fuerza atómica Dimension Edge™
para la investigaciónde mesa

microscopio de fuerza atómica
microscopio de fuerza atómica
microscopio de fuerza atómica
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Tipo
de fuerza atómica
Aplicaciones
para la investigación
Configuración
de mesa

Descripción

Dimension Edge™ incorpora la tecnología PeakForce Tapping® de Bruker para proporcionar los niveles más altos de rendimiento, funcionalidad y accesibilidad de microscopios de fuerza atómica (AFM) de su clase. Basado en la plataforma Dimension Icon, el sistema Edge ha sido diseñado de arriba a abajo para ofrecer la baja deriva y el bajo ruido necesarios para lograr datos listos para su publicación en cuestión de minutos en lugar de horas, todo ello a precios muy por debajo de las expectativas para dicho rendimiento. La retroalimentación visual integrada y los ajustes preconfigurados permiten obtener resultados de nivel experto de forma sencilla y consistente, poniendo las capacidades y técnicas más avanzadas de AFM de muestras grandes al alcance de cualquier instalación y usuario. Modular microscopio y electrónica modulares Ofrece alta fidelidad de imagen y flexibilidad de investigación a un coste moderado. Incorpora acceso al enrutamiento de señales Permite realizar mediciones personalizadas y ampliar las capacidades de investigación. Integrado integrado Proporciona una navegación rápida de la muestra y mediciones eficientes en varios sitios. Precisión de bucle cerrado En el corazón de las capacidades de este sistema se encuentra el reconocido escáner de bucle cerrado de Bruker. Este componente de escaneo de puntas, que incorpora sensores de posición con compensación de temperatura y es accionado por una electrónica de control modular de bajo ruido, reduce los niveles de ruido de posicionamiento de bucle cerrado a la escala de longitud de un único enlace químico. Etapa de muestras de gran tamaño La platina de muestras Dimension Edge no sólo está motorizada y es programable para realizar mediciones eficientes en varios sitios, sino que también permite colocar más tipos de muestras directamente bajo el escáner de AFM con menos tiempo de preparación.

---

Catálogos

Otros productos de Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.