Microscopios para la investigación HITACHI

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm

... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm

... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] ...

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... La familia SU3800/3900 VP-SEM se centra en la productividad. Estas herramientas automatizan las tareas repetitivas para que pueda obtener resultados reproducibles en poco tiempo y con escaso esfuerzo manual. Están disponibles dos cámaras ...

Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM clásico, pero ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Largo: 617 mm

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... muestra. Gracias al corrector Cs, la superficie puede visualizarse con resolución atómica. El cambio rutinario y rápido entre TEM y STEM facilita el trabajo diario con un corrector de Cs totalmente automatizado, incluso ...

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para ...

Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm

... navegación intuitiva y automatización avanzada, proporcionando resultados fiables y consistentes en entornos industriales y de investigación. Su flexibilidad permite flujos de trabajo eficientes tanto para muestras estándar ...