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Microscopios de pie Hitachi
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Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm
... prácticas en su laboratorio, el SU9000II utiliza una platina de muestra de entrada lateral ultra-estable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora una amortiguación de vibraciones optimizada y una cabina cerrada ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,6, 0,9, 0,8 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... abordar estos aspectos y otros más, proporcionando información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica. ¡Experimente el nanomundo con el SU7000! Características Concepto clave 1.Capacidad ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... convierten en expertos de la noche a la mañana. La tecnología de ajuste automático de ejes (autocalibración) restablece el microscopio a su "mejor estado" a petición del usuario. Una robusta cámara de muestras "extraíble" ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 50.000, 60.000, 10.000, 30.000, 15.000 unit
Resolución espacial: 4, 5 nm
... energía limpia para ofrecer una herramienta analítica económica, sin comprometer el rendimiento. Información general El microscopio electrónico de barrido FlexSEM 1000 II incorpora sistemas ópticos y de detección de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... TEM/STEM de 200 kV con corrección de aberraciones exclusivo de Hitachi: la armonía perfecta entre resolución de imagen y rendimiento analítico 0.se consigue una resolución espacial de 078 nm en STEM junto con una alta capacidad de inclinación ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... para los análisis TEM modernos. Características La lente de objetivo de modo dual de Hitachi permite una observación sencilla con poco aumento, alto contraste de campo amplio, alta resolución y mucho más, todo en un ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 2,5, 0,9 nm
... Los SEM Hitachi SU3800SE y SU3900SE proporcionan soluciones versátiles de captura de imágenes y análisis para diversas aplicaciones. Estos instrumentos ofrecen imágenes de alta resolución, navegación intuitiva y automatización avanzada, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 2,1, 1,6 nm
... serie de alta resolución real con el fin de hacer frente a las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales ...
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