Microscopios de pie Hitachi

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microscopio SEM
microscopio SEM
SU9000 II

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU8700

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio CFE-SEM
microscopio CFE-SEM
SU8600

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm

... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU7000

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,9 nm

... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SU3800/3900 Family

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... La familia SU3800/3900 VP-SEM se centra en la productividad. Estas herramientas automatizan las tareas repetitivas para que pueda obtener resultados reproducibles en poco tiempo y con escaso esfuerzo manual. Están disponibles dos cámaras ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
FlexSEM II

Aumento: 6, 8.000.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM clásico, pero ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio STEM
microscopio STEM
HF5000

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... muestra. Gracias al corrector Cs, la superficie puede visualizarse con resolución atómica. El cambio rutinario y rápido entre TEM y STEM facilita el trabajo diario con un corrector de Cs totalmente automatizado, incluso ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio TEM
microscopio TEM
HT7800 Series

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FE-SEM
microscopio FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm

... Los SEM Hitachi SU3800SE y SU3900SE proporcionan soluciones versátiles de captura de imágenes y análisis para diversas aplicaciones. Estos instrumentos ofrecen imágenes de alta resolución, navegación intuitiva y automatización avanzada, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX5000

Aumento: 0 unit
Resolución espacial: 4, 60 nm

... NX5000 está destinada a aplicaciones avanzadas de precisión de posición en las áreas de producción automatizada de láminas TEM ultrafinas para TEM/STEM con corrección de aberraciones, examen SEM multiseñal de alta resolución ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX9000

Resolución espacial: 2,1, 1,6 nm

... serie de alta resolución real con el fin de hacer frente a las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la máxima precisión en el procesamiento de materiales ...

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