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Microscopios electrónicos de barrido
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Aumento: 1 unit - 2.000.000 unit
ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM (microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente ...
ZEISS Microscopy
... Transmisión) o difracción (SAED - Difracción Electrónica de Área Seleccionada), así como en modos de barrido (STEM - Microscopio Electrónico de Transmisión por Barrido ...
Aumento: 1.000.000 unit
... ™, que se encuentra en el corazón de todos los instrumentos SEM y FIB-SEM de TESCAN. Un operador que aprenda en el TESCAN VEGA Compact puede hacer fácilmente la transición a otros microscopios TESCAN ...
TESCAN GmbH
SEM analítico para caracterización de rutina de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala de micras El Microscopio Electrónico de Barrido ...
TESCAN GmbH
Los Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM) de 4ta generación MIRA de TESCAN con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes de SEM con análisis ...
TESCAN GmbH
Aumento: 25 unit - 200.000 unit
Peso: 330 kg
Largo: 835 mm
... capaz de proporcionar rápidamente datos más útiles y novedosos. FusionScope ofrece todas las ventajas de un microscopio de fuerza atómica con SEM totalmente funcional. Es capaz de realizar la mayoría ...
Resolución espacial: 0,1 nm
... Los microscopios electrónicos denominados SEM (microscopio electrónico de barrido) y TEM (microscopio ...
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,4 nm
... muestra de entrada lateral ultraestable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora una amortiguación de vibraciones optimizada y una cabina cerrada para proteger la óptica electrónica del ruido ...
Hitachi High-Technologies
... nuestro microscopio electrónico podrá ver a escala submicrónica y nanométrica. Nuestro microscopio electrónico de barrido (SEM) personal le ayuda a ...
Resolución espacial: 1,8, 2,6, 2,5, 4,6, 1 µm
... El NPS es un sensor confocal puntual de luz blanca combinado con una platina motorizada de alta precisión. Permite medir altitudes submicrométricas en cualquier tipo de superficie sin contacto con la muestra. Perfil de alta velocidad Al ...
Hirox Europe
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