El SIM (Strobed Inspection Module) es el núcleo de todos los sistemas AOI 2D de CyberOptics. Diseñado y fabricado exclusivamente por CyberOptics, el SIM realiza inspecciones de alto rendimiento a 110 cm²/seg sin requerir calibración. El QX250i, equipado con tecnología AI² (Autonomous Image Interpretation), permite una programación ultra-rápida, llevándote de cero a la producción en menos de 13 minutos*. Con un sensor de 80 megapíxeles, el QX250i™ mejora significativamente el rendimiento de la inspección de juntas de soldadura y 01005.
Los sistemas de inspección AOI 2D de la serie QX ofrecen inspecciones rápidas, flexibles y de alto rendimiento para todas las aplicaciones, optimizados para la inspección previa al reflujo y selectiva. Los módulos de inspección de alta resolución (SIM) con iluminación mejorada proporcionan una plataforma única para la inspección y revisión de defectos, reduciendo el tiempo de la línea de producción y aumentando la productividad hasta en un 50%.
- SIM (Strobed Inspection Module) diseñado por CyberOptics
- Inspección de alto rendimiento a 110 cm²/seg
- Sistema sin calibración
- Tecnología AI² para programación ultra-rápida
- De cero a producción en menos de 13 minutos*
- Sensor de 80 megapíxeles (QX250i™)
- Mejora significativa en la inspección de juntas de soldadura y 01005
- Optimizado para inspección previa al reflujo y selectiva
- Iluminación mejorada para inspección superior e inferior
- Aumento de la productividad hasta un 50%